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{ "@context":"http://schema.org/", "@type":"BreadcrumbList", "itemListElement": [{"@type":"ListItem","position":1,"item":{"@id":"\/de\/","name":"Home"}},{"@type":"ListItem","position":2,"item":{"@id":"\/de\/applied-science\/","name":"Applied Science"}},{"@type":"ListItem","position":3,"item":{"@id":"\/de\/applied-science\/ingenieurwesen\/","name":"Ingenieurwesen"}},{"@type":"ListItem","position":4,"item":{"@id":"\/de\/applied-science\/ingenieurwesen\/zerstoerungsfreie-materialuntersuchung\/","name":"Zerst\u00f6rungsfreie Materialuntersuchung"}}] }

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