Datenblatt

Untersuchung hexagonaler Kristallstrukturen mit Röntgenstrahlen / Debye-Scherrer-Pulververfahren

Artikel-Nr.: P2541505

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Prinzip

Eine polykristalline Zirkoniumfolie wird mit Röntgenstrahlung durchstrahlt. Die resultierenden Debye-Scherrer-Reflexe werden fotografisch registriert und ausgewertet.

Aufgaben

Registrieren Sie die Debye-Scherrer-Reflexe einer dünnen, polykristallinen Zirkoniumfolie fotografisch.
Ordnen Sie die einzelnen Ringreflexe den entsprechenden Netzebenen zu.
Berechnen Sie die Gitterkonstanten von Zirkonium.
Bestimmen Sie die Atomanzahl in der Einheitszelle.

Themenfelder

Charakteristische Röntgenstrahlung
Bravais-Gitter
Reziproke Gitter
Millersche-Indizes
Atomfaktor
Strukturfaktor
Bragg-Streuung

Lieferumfang
XR 4.0 expert unit Röntgengerät, 35 kV	09057-99	1
XR4 X-ray Einschub mit Kupfer-Röntgenröhre	09057-51	1
XR4 Röntgengerät Erweiterungsset Strukturanalyse	09145-88	1

Untersuchung hexagonaler Kristallstrukturen mit Röntgenstrahlen / Debye-Scherrer-Pulververfahren

Lieferumfang