Datenblatt

Bestimmung der Gitterkonstanten eines Einkristalls

Artikel-Nr.: P2546205

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Prinzip

Polychromatische Röntgenstrahlen treffen unter verschiedenen Glanzwinkeln auf einen Einkristall, an dessen Netzebenen die Strahlen reflektiert werden. Mit Hilfe eines Energiedetektors werden in Reflexion nur die Strahlenanteile registriert, die konstruktiv miteinander interferieren. Aus den verschiedenen
Beugungsordnungen und der Energie der reflektierten Strahlen wird die Gitterkonstante des Kristalls bestimmt.

Aufgaben

Die Energie der an den Netzebenen des LiF-Einkristalls reflektierten Röntgenstrahlen ist für verschiedene
Glanzwinkel und für verschiedene Beugungsordnungen zu bestimmen.
Aus den Glanzwinkeln und den zugehörigen Energiewerten ist die Gitterkonstante von LiF zu berechnen.

Lernziele

Brems- und charakteristische Röntgenstrahlung
Energieniveaus
Kristallstrukturen
Bravais-Gitter
reziproke Gitter
Millersche Indizes
Bragg-Streuung
Interferenz
Halbleiterdetektoren
Vielkanalanalysatoren

Lieferumfang
XR 4.0 expert unit Röntgengerät, 35 kV	09057-99	1
XR 4.0 X-ray Goniometer	09057-10	1
XR4 X-ray Einschub mit Kupfer-Röntgenröhre	09057-51	1
XR4 Röntgengerät Erweiterungsset Materialanalyse	09165-88	1

Bestimmung der Gitterkonstanten eines Einkristalls

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