Datenblatt

Untersuchung von Kristallstrukturen mit Röntgenstrahlen / Laue-Verfahren

Artikel-Nr.: P2541605

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Prinzip

Laue-Diagramme werden bei Durchstrahlung von Einkristallen mit polychromatischen Röntgenstrahlen erzeugt. Die Methode wird hauptsächlich zur Bestimmung von Kristallsymmetrien und zur Orientierung von Kristallen benutzt. Durchstrahlt man einen LiF-Einkristall mit polychromatischer Röntgenstrahlung erhält man ein charakteristisches Beugungsmuster. Dies wird fotografiert und ausgewertet.

Aufgaben

Nehmen Sie das Laue-Diagramm eines LiF-Einkristalls mit Hilfe eines Films auf.
Ordnen Sie die Laue-Reflexe den verschiedenen Netzebenen des Kristalls zu.

Lernziele

Charakteristische Röntgenstrahlung
Bravais-Gitter
Reziproke Gitter
Millersche-Indizes
Atomfaktor
Strukturfaktor
Bragg-Streuung

Lieferumfang
XR 4.0 expert unit Röntgengerät, 35 kV	09057-99	1
XR4 X-ray Einschub mit Kupfer-Röntgenröhre	09057-51	1
XR4 Röntgengerät Erweiterungsset Strukturanalyse	09145-88	1

Untersuchung von Kristallstrukturen mit Röntgenstrahlen / Laue-Verfahren

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