Spectroscopie de fluorescence X qualitativedes métaux - la loi de Moseley

Principe

Divers échantillons métalliques sont soumis à des rayons X polychromatiques. L'énergie du rayonnement de fluorescence résultant est analysée à l'aide d'un détecteur à semi-conducteurs et d'un analyseur multicanaux. L'énergie des lignes caractéristiques correspondantes des rayons X est déterminée et le diagramme de Moseley qui en résulte est utilisé pour déterminer la fréquence de Rydberg et les constantes d'écran.

Objectifs

1. Calibrer le détecteur d'énergie à semi-conducteurs à l'aide de la radiation caractéristique du tube à rayons X en tungstène.
2. Enregistrez les spectres du rayonnement de fluorescence généré par les échantillons métalliques.
3. Déterminer les valeurs d'énergie des lignes caractéristiques K α- et K β- correspondantes.
4. Déterminez la fréquence de Rydberg et les constantes de blindage à l'aide des diagrammes de Moseley résultants.

Ce que vous pouvez apprendre sur

• Bremsstrahlung
• rayonnement X caractéristique
• Absorption des rayons X
• Le modèle atomique de Bohr
• Niveaux d'énergie
• Loi de Moseley
• Fréquence de Rydberg
• Constante de blindage
• Détecteurs d'énergie à semi-conducteurs
• Analyseurs multicanaux