XR 4.0 Kit d'extension analyse cristallographique

Fonction et applications

Jeu de mise à niveau comme extension du jeu d'experts en rayons X XRE 4.0 (09110-88). Cet ensemble est particulièrement adapté à l'analyse structurelle de différents types d'échantillons en physique des matériaux, analyse chimique et minéralogie.

L'ensemble couvre les expériences et les sujets suivants :

• Fluoroscopie et imagerie par rayons X
• Analyses et images de Debye-Scherrer
• Schémas de diffraction de Laue
• Principes fondamentaux de la spectroscopie par rayons X
• Réflexion de Bragg, géométrie de Bragg-Brentano
• Spectre de Brems
• Détermination du quantum d'action de Planck
• Diffractométrie des rayons X
• Analyse de la texture des matériaux en croissance
• Monochromatisation des rayons X
• Analyse de cristaux présentant différentes structures cristallines : cubique, hexagonale, tétragonale, diamant, BCC et FCC

Avantages

• Analyses de matériaux avec différentes techniques : analyses diffractométriques et photographiques
• Échantillons de différentes structures : échantillons monocristallins et polycristallins, cristallites en poudre

Équipement et données techniques

L'ensemble comprend les éléments suivants :

• Tube de compteur Geiger-Müller, type B avec support
• Banc optique expert avec accessoires
• Cristal XR 4.0 X-ray LiF dans un support

• XR 4.0 X-ray KBr cristal dans un support

• XR 4.0 Monocristaux de NaCl pour rayons X, jeu de 3
• XR 4.0 Tube à diaphragme radiologique avec feuille de Ni
• XR 4.0 Tube à diaphragme radiologique avec feuille de Zr
• XR 4.0 Support de cristaux radiologiques pour images Laue
• XR 4.0 Porte-cristaux universel pour l'unité de radiologie
• XR 4.0 Porte-échantillon à rayons X pour échantillons en poudre
• accessoires

Un tube à rayons X (09057-51, 09057-61, 09057-71, 09057-81) et un goniomètre (09057-10) sont également nécessaires.