Analyse d'une structure de cristal cubique - Méthode depoudres selon Debye-Scherrer

Lorsque des échantillons polycristallins sont irradiés par des rayons X, il en résulte un diagramme de diffraction caractéristique. Ces réflexions de Debye-Scherrer sont photographiées et ensuite évaluées.

Objectifs

1. Des photographies de Debye-Scherrer doivent être prises d'échantillons en poudre de chlorure de sodium et de chlorure de césium.
2. Les anneaux de Debye-Scherrer doivent être évalués et attribués aux plans de maille correspondants.
3. Les constantes de réseau des matériaux de l'échantillon doivent être déterminées.
4. Le nombre d'atomes dans les cellules unitaires de chaque échantillon doit être déterminé.

Ce que vous pouvez apprendre sur

• Les réseaux cristallins
• Systèmes cristallins
• Réseau réciproque
• Indices de Miller
• Amplitude de la structure
• Facteur de forme atomique
• Diffusion de Bragg