setTimeout(function(){ window.print(); },500)
 

Технические характеристики


Рентгеновское изучение кубических кристаллических структур / порошковый метод Дебая-Шерера

Кат.номер: P2541405
Принцип

При облучении поликристаллических образцов рентгеновскими лучами возникает характерная дифракционная картина. Эти отражения Дебая-Шеррера фотографируются и затем оцениваются.

Задание

  1. Необходимо сделать фотографии Дебая-Шеррера порошкообразных образцов хлорида натрия и хлорида цезия.
  2. Кольца Дебая-Шеррера должны быть оценены и отнесены к соответствующим плоскостям решетки.
  3. Необходимо определить константы решетки образцов.
  4. Определить число атомов в элементарных ячейках каждого образца.

Что вы можете узнать о

  • Кристаллические решетки
  • Кристаллические системы
  • Реципрокная решетка
  • Индексы Миллера
  • Амплитуда структуры
  • Атомный форм-фактор
  • Брэгговское рассеяние

Объём поставки

XR 4.0 X-ray Базовая рентгеновская установка, 35 кВ 09057-99 1
XR4 Съёмная рентгеновская трубка Plug-in Cu tube 09057-51 1
XR 4.0 Рентгеноструктурный анализ, расширение 09145-88 1
Хлорид натрия, 250 г 30155-25 1

PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com