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Données techniques


Compact AFM, Microscope à Force Atomique

Article n° : 09700-99

Fonction et applications

Microscope à force atomique compact et facile à utiliser pour l’imagerie de micro- et nanostructures variées. Conçu pour l’enseignement, les travaux pratiques et la préparation à la recherche en physique, chimie, sciences de la vie et ingénierie.

Avantages

  • Appareil compact tout-en-un, simple d’utilisation et facile à transporter
  • Solution complète comprenant appareil, échantillons, sondes, outils et descriptions d’expériences
  • Approche automatique de la sonde pour éviter toute détérioration de la sonde et de l’échantillon
  • Insertion et remplacement faciles des échantillons
  • Aucun réglage du laser nécessaire
  • Appareil proche des performances de recherche pour environ un tiers du coût d’un système de recherche

Caractéristiques techniques

  • Modes de mesure : contact, dynamique, contraste de phase, MFM, EFM, spectroscopie simple (force-distance, amplitude-distance, tension-distance)
  • Tête de balayage avec commande intégrée sur plaque amortie, 21 × 21 × 18 cm (L × l × H)
  • Mécanisme rabattable pour l’accès aux échantillons et cantilevers avec extinction automatique de l’éclairage et retrait automatique de la tête; protection transparente contre les courants d’air et le bruit; interface USB 2.0
  • AFM à balayage par pointe : linéaire, électromagnétique, basse tension
  • Zone d’image maximale : 70 × 70 µm² (dimension XY, tolérance de fabrication 10 %)
  • Course maximale en Z : 14 µm
  • Résolution X/Y/Z : 1,1 nm
  • Niveau de bruit Z (RMS mode statique) : 0,6 nm
  • Niveau de bruit Z (RMS mode dynamique) : 0,5 nm
  • Approche automatique : verticale, jusqu’à 4,5 mm
  • Support pour cantilevers standards de différents fabricants avec rainures d’alignement
  • Caméra de vue supérieure : USB, 2048 × 1536 pixels, résolution meilleure que 2 µm, zoom numérique 1×, 2×, 4×
  • Éclairage de l’échantillon par LED blanche avec arrêt automatique
  • Extensions possibles vers d’autres modes via des packs optionnels
  • Extension du pilotage par scripting/accès à l’interface utilisateur (LabView, VisualBasic, …)
  • Jeu de cantilevers : 4× mode contact, 4× mode dynamique
  • Jeu d’échantillons (6) : nanotubes de carbone, empreinte de CD, structure de puce, coupe de peau, microstructure, bactéries Staphylococcus séchées
  • Quatre porte-échantillons vides pour échantillons personnels
  • Jeu d’outils pour le montage des échantillons et cantilevers
  • Logiciel performant pour la mesure, l’analyse et la visualisation (1D, 2D, 3D)
  • Manuel avec instructions détaillées et cinq expériences décrites
  • Alimentation : 100–240 V, 50/60 Hz
  • Valise en plastique avec logements pour extensions et caméra latérale, 44 × 32 × 25 cm

Accessoires recommandés

Kit d'extension "analyse des matériaux" pour microscope AFM 09701-00
Caméra digitale, USB, magnétique pour microscope AFM 09750-00
Cantilever, pour AFM en mode contact, 10 pcs 09710-00
Cantilever, pour AFM en mode dynamique, 10 pcs 09711-00
Cantilever magnétique pour AFM, 10 pcs 09712-00
Cantilever conducteur électrique pour AFM, 10 pcs 09713-00

PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
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