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Datos técnicos


Compact AFM, Microscopio de Fuerza Atómica

Nº de artículo 09700-99

Funciones y uso

Microscopio de fuerza atómica compacto y fácil de usar para la obtención de imágenes de micro- y nanoestructuras. Diseñado para la docencia, prácticas de laboratorio y preparación para la investigación en física, química, ciencias de la vida e ingeniería.

Beneficios

  • Dispositivo compacto todo en uno, fácil de manejar y transportar
  • Solución completa con equipo, muestras, sondas, herramientas y guías de experimentos
  • Aproximación automática de la sonda para evitar daños en la sonda y la muestra
  • Inserción y cambio sencillo de muestras
  • No requiere ajuste del láser
  • Equipo de nivel cercano a la investigación a aproximadamente un tercio del coste de un sistema de investigación

Especificaciones técnicas

  • Modos de medición: contacto, dinámico, contraste de fase, MFM, EFM, espectroscopía básica (fuerza–distancia, amplitud–distancia, tensión–distancia)
  • Cabezal de escaneo con control integrado sobre base amortiguada, 21 × 21 × 18 cm (L × A × H)
  • Mecanismo abatible para acceso a muestras y cantiléveres con apagado automático de la iluminación y retracción automática del cabezal; protección transparente contra corrientes de aire y ruido; interfaz USB 2.0
  • AFM de escaneo por punta: lineal, electromagnético, baja tensión
  • Área máxima de imagen: 70 × 70 µm² (dimensión XY, tolerancia de fabricación del 10 %)
  • Rango máximo en Z: 14 µm
  • Resolución X/Y/Z: 1,1 nm
  • Nivel de ruido Z (RMS modo estático): 0,6 nm
  • Nivel de ruido Z (RMS modo dinámico): 0,5 nm
  • Aproximación automática: vertical, hasta 4,5 mm
  • Soporte para cantiléveres estándar de distintos fabricantes con ranuras de alineación
  • Cámara superior: USB, 2048 × 1536 píxeles, resolución mejor que 2 µm, zoom digital 1×, 2×, 4×
  • Iluminación de muestra con LED blanco, apagado automático
  • Ampliable a otros modos mediante paquetes de expansión
  • Control ampliado mediante scripting/acceso a la interfaz de usuario (LabView, VisualBasic, …)
  • Juego de cantiléveres: 4× modo contacto, 4× modo dinámico
  • Juego de muestras (6): nanotubos de carbono, sello de CD, estructura de chip, sección de piel, microestructura, bacterias Staphylococcus secas
  • Cuatro portamuestras vacíos para muestras propias
  • Juego de herramientas para montaje de muestras y cantiléveres
  • Software potente para medición, análisis y visualización (1D, 2D, 3D)
  • Manual con instrucciones detalladas y cinco experimentos descritos
  • Fuente de alimentación: 100–240 V, 50/60 Hz
  • Maletín de plástico con compartimentos para ampliaciones y cámara lateral, 44 × 32 × 25 cm

Accesorios recomendados

Kit de extensión Análisis de Materiales, para AFM 09701-00
Cámara digital vista lateral, adhesivo magnético para Microscopio de fuerza atómica compacto 09750-00
Viga en voladizo, Microscopio de fuerza atómica compacto, 10 Uni. 09710-00
Viga en voladizo, microscopio de fuerza atómica dinámico, 10 Uni. 09711-00
Viga en voladizo, magnético, 10 uni. Para Microscopio de fuerza atómica 09712-00
Viga en voladizo, conductividad eléctrica, 10 uni. Para microscopio de fuerza atómica conductiva 09713-00

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