setTimeout(function(){ window.print(); },500)
 

Технические характеристики


Определение интенсивности дифракции на щели и проволоке теорема Бабинета

Кат.номер: P2230601

Принцип

Апертура, состоящая из одинарной щели и дополнительной полосы (проволока) освещается лучом лазера. При помощи подвижного фотоэлемента измеряются соответствующие дифракционные картины в зависимости от положения и интенсивности.

Задание

1. Определить распределение интенсивности дифракционных картин на щели и полосе (проволоке).
2. Определить отношение интенсивности пиков дифракционной картины для одинарной щели.
3. Рассмотреть теорему Бабинета, используя дифракционные картины щели и полосы.

Получаем понятие о:

- принципе Гюйгенса
- интерференции
- дифракции Фраунгофера и Френеля
- теореме Бабинета
- пятне Пуассона
- когерентности
- лазере

Объём поставки

Диодный лазер, зеленый, 1 мВт, 532 нм 08764-99 1
Цифровая матричная камера 35612-99 1
Оптическая скамья, l=1500 мм 08281-00 1
Основание для оптической скамьи, регулируемое 08284-00 2
Бегунок для оптической скамьи и с вертикальной трубкой, h=30 мм 08286-01 3
Держатель универсальный, вращающийся 08040-02 1
Экран, с дифракционными объектами 08577-02 1

PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com