Технические характеристики

Количественный рентгенофлуоресцентный анализ легированных материалов

Кат.номер: P2545005

<!DOCTYPE html PUBLIC "-//W3C//DTD XHTML 1.0 Strict//EN" "http://www.w3.org/TR/xhtml1/DTD/xhtml1-strict.dtd"> Unknown

Принцип
Различные легированные материалы подвергаются полихроматическому рентгеновскому излучению. Энергия полученного флуоресцентного излучения анализируется с помощью полупроводникового детектора энергии и многоканального анализатора.

Определяется энергия соответствующих характеристических рентгеновских флуоресцентных линий. Для определения концентрации компонентов сплава сравнивают интенсивность соответствующих сигналов флуоресценции с чистыми элементами.

Задание
1. Откалибруйте полупроводниковый детектор энергии с помощью характеристического излучения вольфрамовой рентгеновской трубки.
2. Запишите спектры флуоресценции, полученных на легированных образцах.
3. Запишите спектры флуоресценции чистых металлов.
4. Определите значение энергий соответствующих линий флуоресценции.
5. Рассчитайте уровни концентрации составляющих сплава.

Получаем понятие о
• тормозное излучение
• характеристическое рентгеновское излучение
• энергетические уровни
• флуоресцентный выход
• эффект Оже
• когерентное и некогерентное рассеяние фотонов
поглощение рентгеновских лучей
• края поглощения
• матричные эффекты
• полупроводниковые детекторы энергии

Объём поставки

XR 4.0 X-ray Базовая рентгеновская установка, 35 кВ	09057-99	1
XR 4.0 X-ray Гониометр для рентгеновской установки, 35 кВ	09057-10	1
XR4 Съёмная рентгеновская трубка Plug-in Cu tube	09057-51	1
XR 4.0 X-ray Рентгеновский анализ материалов, расширение	09165-88	1